产品说明
Filmetrics Profilm3D 和 Filmetrics Profilm3D-200 白光干涉仪能够高分辨率地测量亚纳米级分辨率的表面形貌。这些机台支持垂直扫描和相移干涉测量法。Profilm3D 采用TotalFocus™ 技术,可以产生令人惊叹的 3D 自然彩色图像,每个像素都处于聚焦状态。最新一代的 Profilm3D 引入了加强版粗糙度成像技术,可用于测量更粗糙的表面、更高的斜率以及更低的反射率表面。
在 Profilm3D 测量技术中,测量的垂直分辨率不依赖于物镜的数值孔径,能够同时以大视场进行高分辨率的测量。通过将多个视场拼接到单次测量中,可以进一步增大测量区域。Profilm3D 还具有简单、创新的用户界面和自动化功能,支持从研发到生产的各种工作环境。
我们的 Profilm® 软件包采用先进的基于云的 ProfilmOnline® 网络服务、 Android 和 iOS 的移动应用程序以及高级 Profilm 桌面软件,可提供灵活的数据存储、可视化功能以及分析解决方案。
特征
- 垂直扫描和相移干涉测量法用于测量纳米级到毫米级的表面特征
- TotalFocus 3D成像技术对整个测量范围内的每个像素的聚焦能力都进行了优化
- 真彩色成像可生成实际的样品颜色,增强可视化效果,尤其是对于细小或埋藏的特征
- 粗糙度增强模式 (ERM) 可提高条纹的对比度,从而提高透镜等斜率较大的表面的保真度,并改善了粗糙表面上的信噪比
- 该自动对焦功能具有行业领先的长压电行程范围,可扫描高度相隔甚远的多个表面
- 具有长行程范围的 自动化 X-Y 样品台,非常适合分布测绘和拼接扫描
- 使用简便的软件包带有高级 Profilm 桌面、基于云的 ProfilmOnline 和移动应用程序,可用于灵活的数据存储、可视化功能以及分析。
应用
- 台阶高度:从纳米级到毫米级的 3D 台阶高度
- 纹理和形状:3D粗糙度、波纹度、翘曲度和形状
- 纹理表征
- 边缘倒角:3D边缘轮廓测量
- 缺陷表征:3D缺陷表面形貌、缺陷表征
- 对大型透明薄膜的表面进行高分辨率扫描
- 高粗糙度,低反射率,划痕表征
行业
- 大学、实验室和研究所
- 硅和化合物半导体
- 精密光学和机械
- 医疗设备
- LED:发光二极管
- 功率器件
- MEMS: 微机电系统
- 数据存储
- 汽车
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