KLA将举办Filmetrics光反射膜厚仪的原理及应用专题研讨会
在高端制造领域,对于精密薄膜厚度的纳米级精度控制已成为半导体器件性能、光学镀膜质量及显示面板良率的核心挑战。为应对行业对高精度测量技术的迫切需求,内容围绕KLA膜厚仪的介绍以及应用展开深度分享。
我们将在11月开展关于“KLA旗下Filmetrics光反射膜厚仪的原理及应用“专题研讨会。在此研讨会中,我们将邀请相关领域的专家,围绕反射光谱仪的测量技术进行探讨。会议期间我们准备了精美奖品和抽奖活动,期待您来参与!
直播时间:2025年11月19日下午14:00 – 16:00
直播形式:线上注册观看
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