演讲时间:10月26日16:10–16:30

演讲地点:台北福华大饭店

演讲主题:KLA Instruments薄膜测量和特性分析的解决方案

演讲人:张骏-应用经理

演讲人介绍:张骏,博士/应用经理,2013年取得复旦大学物理学系学士,2018年获得凝聚态物理博士学位,同年加入科磊半导体设备技术(上海)有限公司,参与了多个技术项目的开发和支持工作,包括探针式轮廓仪,白光干涉技术,相移干涉技术,点阵式共聚焦技术,反射式膜厚测量技术,方阻测量技术等,积累了丰富的测量经验和客户案例。

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